廈門(mén)市慧灃電子工業(yè)有限公司?
Xiamen Huifeng Electronic Industry Co.,ltd
硅膠制品檢驗(yàn)的一般標(biāo)準(zhǔn)
一. 一般標(biāo)準(zhǔn)
1.工作溫度:-15℃—+80℃
2.貯存溫度:-30℃—+85℃
3.貯存時(shí)間: A.產(chǎn)品在無(wú)擠壓情況下平放:可長(zhǎng)期保貯
B.產(chǎn)品在擠壓情況下存放:1個(gè)月
4.工作相對(duì)濕度:45℅—95℅
5.工作氣壓:86-106Kpa
6.接 觸 率:5MA在12VDC/0.5秒/2*107次
7.接觸反彈:<12毫秒
8.絕緣電阻:>1012歐姆/500VDC
9.擊穿電壓:>25KV/mm
二. 外觀
1. 顏色
(1).標(biāo)準(zhǔn):硫化裝配后硅膠不外露,無(wú)較大差異
(2).檢測(cè)方法:在明亮的自然光或40W日光燈下,將標(biāo)準(zhǔn)樣品或色卡與待校樣品放
在一起,經(jīng)視力1.0以上,無(wú)色盲的專業(yè)人員在肉眼與樣品間距為750px的情
況下目檢5秒鐘.
2. 偏心
(1)標(biāo)準(zhǔn): H厚–H薄 彈性壁厚度≤0.1MM時(shí),模具檢測(cè)時(shí)X=20℅;
≤X 彈性壁厚度≤0.2MM時(shí),模具檢測(cè)時(shí)X=15℅
H厚+ H薄 彈性壁厚度≤0.3MM時(shí),模具檢測(cè)時(shí)X=8%
(2)檢測(cè)方法:用厚度儀測(cè)試。
3. 溢料
(1) 標(biāo)準(zhǔn):從鍵面向下
單色料高≥露出外殼高度+1.0MM,裝外殼后看不見(jiàn)為宜.
(2) 檢測(cè)方法:用游標(biāo)卡尺測(cè)量
4. 毛邊
(1) 標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品邊緣:≤0.5MM
定位孔: ≤0.1MM
5. 破裂
(1) 標(biāo)準(zhǔn):無(wú)影響裝配與使用性能之處:≤1.0MM
(2) 檢測(cè)方法:用游標(biāo)卡尺測(cè)量
6. 色點(diǎn)凹凸點(diǎn)
(1) 標(biāo)準(zhǔn):客戶裝配后硅膠外露部分:無(wú)明顯可見(jiàn)
檢測(cè)方法:在明亮的自然光或40瓦日光燈照射下,將樣品放于距肉眼30CM左右處經(jīng)
視力1.0以上人員目測(cè)5秒鐘
7.以上字符偏移
(1) 標(biāo)準(zhǔn):中心值±0.15MM
(2) 檢測(cè)方法:用工具顯微鏡測(cè)量
三. 物理性能
1.尺寸
L<10 : L±0.05MM
10≤L<20 : L±0.08MM
20≤L<30 : L±0.10MM
30≤L<50 : L±0.15MM
50≤L<100 : L±0.3℅LMM
100≤L : L±0.5℅LMM
（2） 檢測(cè)方法:用投影儀測(cè)量
2.彈力
(1) 標(biāo)準(zhǔn):
A.峰值P1
標(biāo)準(zhǔn)值: 50±(5-10)g
70±(10-15)g
90±(15-20)g
100±(15-20)g
120±(20-25)g
150±(20-25)g
170±(25-30)g
200-300g±35g
b.最小回彈P3
P1≤50G時(shí): P3≥20G
50G<P1≤120G時(shí): P3≥25G
120G<P1≤180G時(shí): P3≥30G
180G<P1≤250G時(shí): P3≥40G
250G<P1 時(shí): P3≥50G
c.感覺(jué):20℅-80℅
d.離散性
P1中心值≤150g時(shí),同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤15℅
不同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤20℅
P1中心值≥150g時(shí),同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤20℅
不同片產(chǎn)品之同種鍵型:≤25℅
(2) 測(cè)試方法:用AIKOH MODEL 1305彈力測(cè)量?jī)x測(cè)出彈力隨沖程的變化曲線圖讀取其峰值P1,接觸彈力P2,最小回彈P3.計(jì)算其:
感覺(jué)=(P1-P2)/P1*100℅
離散性=((P1最大峰值)-P1(最小峰值))/P1(最大峰值)*100℅
3.接觸電阻
(1) 標(biāo)準(zhǔn):
a.黑粒導(dǎo)電:≤100歐姆
b.移印導(dǎo)電:≤250歐姆
c.絲印導(dǎo)電:≤500歐姆
(2) 測(cè)試方法:用壓力為250g壓力使產(chǎn)品鍵之導(dǎo)電基壓在間隔為0.5MM的單縫半月形鍍金板上.待萬(wàn)用表顯示值基本穩(wěn)定后,讀取其顯示值.
5.壽命
a.彈性壁壽命
(1) 標(biāo)準(zhǔn):≥50萬(wàn)次
(2) 測(cè)試方法:在AIKOH硅膠壽命測(cè)試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下,設(shè)置打擊平臺(tái)的打擊接觸行程為產(chǎn)品沖程+[0.1-0.2]mm,經(jīng)10萬(wàn)次打擊后,彈性壁不得開(kāi)裂破損,可回彈且提失≤30%,當(dāng)客戶無(wú)要求時(shí)均按50萬(wàn)次進(jìn)行測(cè)試.
b.印刷導(dǎo)電壽命
(1) 標(biāo)準(zhǔn):≥2,000,00次
(2) 測(cè)試方法:在AIKOH硅膠壽命測(cè)試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下,設(shè)置打擊平臺(tái)的打擊接觸行程為產(chǎn)品沖程+[0.1-0.2]mm,經(jīng)20萬(wàn)次打擊后,導(dǎo)電物質(zhì)不得從導(dǎo)電基上脫落且其接觸電阻在規(guī)格內(nèi).
c.印刷字體壽命
(1) 標(biāo)準(zhǔn):≥100圈
(2) 測(cè)試方法:將字符單鍵安裝于PK-3-4字體壽命儀上,使鍵高出0.5-1.0MM,在加上500G的壓力轉(zhuǎn)動(dòng)摩擦,字體不斷開(kāi),當(dāng)客戶無(wú)明確要求時(shí)可采用目視厚度方法進(jìn)行壽命控制.
d.PU壽命
⑴ 標(biāo)準(zhǔn):≥RCA 50圈
⑵ 測(cè)試方法:將測(cè)試KEY安裝于RCA摩擦儀上露了高度0.5-1mm,壓力為175g情況下字體出現(xiàn)損傷時(shí)壽命即為PU壽命.客戶無(wú)要求時(shí),PU壽命按此標(biāo)準(zhǔn).
四.化學(xué)性能(只限錄音電話機(jī)的硅膠按鍵)
1.加熱失重率
(1) 標(biāo)準(zhǔn): a.≤0.2％(經(jīng)200℃/4HRS加熱失重后)
b.≤1.0％(經(jīng)200℃/24HRS加熱失重后)
(2) 測(cè)試方法:將產(chǎn)品放于干燥箱內(nèi)30分鐘,然后取出,用分析天平稱取測(cè)試前產(chǎn)品的片重,W1將產(chǎn)品放入溫度為200+/-5℃的烘箱內(nèi)烘烤4小時(shí)或24小時(shí),然后將產(chǎn)品拿出放入干燥箱內(nèi)放置30分鐘后用分析天平稱取其重量W2,計(jì)算(W1-W2)/W1*100℅之值.
2.抽提失重率
(1)標(biāo)準(zhǔn):≤3.5％
(3) 測(cè)試方法:選取一些有代表性的鍵,剪取約0.5g樣品,再將其剪成0.005-0.01g的小粒,用分析天平稱其準(zhǔn)確總重為W1,將樣品放抽提器內(nèi)并加入異炳醇(IPA)進(jìn)行提2小時(shí),然后取出樣品再放入溫度為100℃的烘箱內(nèi)烘烤半小時(shí),取出后放入干燥箱內(nèi)冷卻半小時(shí)稱其準(zhǔn)確總重W2,計(jì)算(W1-W2)/W1*100℅之值.
3.低分子含量
(1) 標(biāo)準(zhǔn): D3-D10≤300PPM
測(cè)試方法:選取有代表性的鍵1.00+/-0.002g樣品,將其剪成約為2mm的小顆粒,放入
小瓶?jī)?nèi),再將20ML CCL4溶液注入小瓶中,加入20UL的內(nèi)標(biāo)物(CH3(CH2 9CH3)
搖勻存放16-24HRS,用色譜分析儀測(cè)量其D3-D10的量.
